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Die Vorlesung "Elektronenmikroskopie und Röntgenbeugung" vermittelt die Grundlagen für die konsequente Nutzung röntgenographischer Methoden (Laue-Methode, Pulverdiffraktometrie, Spannungsmessung) und der Elektronenmikroskopie am Beispiel der Rasterelektronenmikroskopie. Auf dem Weg zur Besprechung dieser Schlüsselmethoden der Werkstoffwissenschaft wird zunächst der kristallographische und amorphe Aufbau fester Stoffe besprochen. Dann werden die Grundlagen der Erzeugung und Eigenschaften von Strahlen behandelt. Es folgt die Wechselwirkung von Strahlung mit Materie, wobei der Beugung von Kristallgittern besondere Aufmerksamkeit geschenkt wird.

Semester: SoSe 2024
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